摘要：为解决传统米袋包装表面缺陷检测方法效率和精度欠佳的问题，文章提出一种基于YOLOv8n的改进模型。该模型通过引入Wise-IoU损失函数和GAM注意力机制，提升了边界框回归速度和目标定位精度。在自建RICE_PACKAGE-D（试读）...
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