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基于DCNN-BiLSTM-Attention的电机绕组绝缘剩余寿命预测-电脑知识与技术2024年28期

基于DCNN-BiLSTM-Attention的电机绕组绝缘剩余寿命预测

作者:来合仪 关亮 字体:      

关键词:电机绕组绝缘;剩余寿命预测;扩张卷积神经网络;双向长短时记忆神经网络;注意力机制

中图分类号:TP391 文献标识码:A

文章编号:1009-3044(2024)28-0121-03

0 引言

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电脑知识与技术

2024年第28期